Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2014

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник

Члени комітету

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Предложен алгоритм совместного измерительного контроля коэффициента затухания ht, относительной магнитной проницаемости yirt, удельной электрической проводимости ot и температуры t стенки микроволновой камеры с помощью экранного вихретокового устройства. Предложен четырехпараметровый вихретоковый метод измерительного контроля относительной магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости, температуры и коэффициента затухания однородного магнитного поля в стенке микроволновой камеры. Приведены основные соотношения, описывающие четырехпараметровый экранный метод
An algorithm of joint control of measuring the attenuation coefficient ht, relative permeability, conductivity and temperature t of microwave chamber wall using an eddy current device screen. Four-parameter proposed eddy current technique of measuring relative permeability control, conductivitу, temperature t and the damping coefficient uniform magnetic field in the wall of the microwave chamber. The basic relations describing four-parameter screening method

Опис

Ключові слова

микроволновые технологии, совместный измерительный контроль, вихретоковое устройство, четырехпараметровый экранный метод, microwave chamber, measuring algorithm of joint control, eddy current device

Бібліографічний опис

Себко В. В. Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере / В. В. Себко, В. Н. Бабенко, Е. Н. Рябовол // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Инновационные технологии и оборудование обработки материалов в машиностроении и металлургии. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 5 (1048). – С. 65-72.