Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией

Ескіз

Дата

2006

ORCID

DOI

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажно-касторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально–логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.
Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.

Опис

Ключові слова

высоковольтные импульсные конденсаторы, высоковольтная импульсная техника, изоляция, диэлектрики, high-voltage impulse capacitor, paper-castor dielectric, longevity test, reliability indices

Бібліографічний опис

Дубийчук О. Ю. Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией / О. Ю. Дубийчук, В. В. Рудаков // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 1. – С. 71-75.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced