Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15319
Title: Рентгеновские методы анализа состава материалов
Other Titles: X-ray methods for analysis of material composition
Authors: Михайлов, Игорь Федорович
Батурин, Алексей Анатольевич
Михайлов, Антон Игоревич
Keywords: рентгенофлуоресцентный анализ; рентгеноструктурный анализ; комптоновское рассеяние; рентгеновские спектрометры; кристаллы-анализаторы; многослойные рентгеновские зеркала; схема Брэгга-Соллера; монография; monograph; X-ray fluorescent analysis; X-ray structure analysis; Compton scattering; X-ray spectrometer; crystal-analyzers; X-Ray multi-layer mirrors; Bragg-Soller scheme
Issue Date: 2015
Publisher: Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Citation: Михайлов И. Ф. Рентгеновские методы анализа состава материалов : монография / И. Ф. Михайлов, А. А. Батурин, А. И. Михайлов ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : Підручник НТУ "ХПІ", 2015. – 204 с.
Abstract: В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15319
Appears in Collections:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"
Кафедра "Фізика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Monograph_2015_Mikhaylov_Rentgenovskie.pdf1,29 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.