Рентгеновские методы анализа состава материалов
Вантажиться...
Дата
2015
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities.
The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities.
Опис
Ключові слова
рентгенофлуоресцентный анализ, рентгеноструктурный анализ, комптоновское рассеяние, рентгеновские спектрометры, кристаллы-анализаторы, многослойные рентгеновские зеркала, схема Брэгга-Соллера, монография, monograph, X-ray fluorescent analysis, X-ray structure analysis, Compton scattering, X-ray spectrometer, crystal-analyzers, X-Ray multi-layer mirrors, Bragg-Soller scheme
Бібліографічний опис
Михайлов И. Ф. Рентгеновские методы анализа состава материалов : монография / И. Ф. Михайлов, А. А. Батурин, А. И. Михайлов ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : Підручник НТУ "ХПІ", 2015. – 204 с.