Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460
Title: High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range
Other Titles: Высокостабильные стандартные образцы массы в нанограммном диапазоне
Authors: Mikhailov, I. F.
Baturin, A. A.
Bugaev, Ye. A.
Mikhailov, A. I.
Borisova, S. S.
Issue Date: 2013
Publisher: Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals"
Citation: High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271.
Abstract: Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460
Appears in Collections:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"
Кафедра "Фізика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2013_Mikhailov_Higt_stable.pdf331,32 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.