Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/17663
Название: Резонансна вихрострумова дефектоскопія тонких неферомагнітних плівок
Другие названия: Eddy current resonance flaw detection non-ferromagnetic thin films
Авторы: Світличний, Віталій Анатолійович
Научная степень: кандидат технічних наук
Уровень диссертации: кандидатська дисертація
Шифр и название специальности: 05.11.13 – прилади і методи контролю та визначення складу речовин
Совет защиты: Спеціалізована вчена рада Д 64.050.09
Учреждение защиты: Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Научный руководитель: Хорошайло Юрій Евгеньевич
Состав специализированного ученого совета: Гурин Анатолій Григорович
Сучков Григорій Михайлович
Глоба Світлана Миколаївна
Ключевые слова: дефектоскоп; прилад контролю; вихрострумовий перетворювач; вихрострумовий контроль; тонкі неферомагнітні плівки; дефект структури; автореферат дисертації; flaw detector; device of testing; eddy-current probes; eddy-current testing; non-ferromagnetic thin film; defect structure
УДК: 620.179.147
Дата публикации: 2015
Издательство: НТУ "ХПІ"
Библиографическое описание: Світличний В. А. Резонансна вихрострумова дефектоскопія тонких неферомагнітних плівок [Електронний ресурс] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : спец. 05.11.13 / Віталій Анатолійович Світличний ; [наук. керівник Хорошайло Ю. Е.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т". – Харків, 2015. – 20 с. – Бібліогр.: с. 15-18. – укр.
Краткий осмотр (реферат): Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук за спеціальністю 05.11.13 - прилади і методи контролю та визначення складу речовин. – Харківський національний університет радіоелектроніки, Харків, 2015 р. Дисертація присвячена розробці методу і приладу для ефективного контролю дефектів структури тонких неферомагнітних плівок. Проведено аналіз характеристик різних ВСП, здатних виявляти зазначені дефекти. Розглянуті різні режими роботи з урахуванням внутрішнього опору джерела живлення і опору навантаження, способи підключення ВСП до джерела живлення. Розроблено спосіб, що дозволяє поліпшити виявлення дефектів у тонких неферомагнітних плівках. Досліджено модель оцінки взаємодії резонансного ВСП з неферомагнітною тонкою плівкою. Наведено аналітичні співвідношення, проведено розрахунки залежності вихідного сигналу від параметрів ВСП. Для експериментальних досліджень був виготовлений лабораторний макет вихрострумового дефектоскопа, за допомогою якого здійснювалася перевірка відповідності розрахункових теоретичних співвідношень з експериментальними.
Dissertation for the degree of Ph. D. in Engineering Science, specialty 05.11.13 – devices and methods of control and determination of the composition of substances. – Kharkov National University of Radio Electronics, Kharkov, 2015. The dissertation is devoted to the development of methods and instruments for the effective control of defects imperfections film structure The analysis of the characteristics of various ECP capable of detecting these defects. Considering the various modes of operation, taking into account the internal resistance of the power supply and the load resistance, how to connect to a power source ECP. Developed a way to improve the detection of defects in non–ferromagnetic thin films. A model to assess the interaction with non–ferromagnetic resonance ECP thin film. These analytical ratios were calculated according to the output signal from the parameters of the ECP. For experimental research laboratory prototype was manufactured eddy–current flaw detector by which to check whether the calculation of the theoretical and experimental relations.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/17663
Располагается в коллекциях:05.11.13 "Прилади і методи контролю та визначення складу речовин"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
avtoreferat_2015_Svitlychnyi_Rezonansna.pdf1,04 MBAdobe PDFЭскиз
Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.