Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/22014
Название: Взаимодействие собственных колебаний двумерного (2D) электронного газа с потоком заряженных частиц в условиях действия электромагнитного излучения
Другие названия: The kinetic stability of surface plasmons in the presence of the potential barrier at the interface section
Авторы: Кравченко, Владимир Иванович
Серков, Александр Анатольевич
Бреславец, Виталий Сергеевич
Яценко, Ирина Леонидовна
Яковенко, Игорь Владимирович
Ключевые слова: электромагнитные поля; плазма; полупроводник; кинетические неустойчивости; генерация; поверхностные волны; проводящее твердое тело; electromagnetic fields; semiconductor superlattices; collisionless extinction
Дата публикации: 2016
Издательство: НТУ "ХПИ"
Библиографическое описание: Взаимодействие собственных колебаний двумерного (2D) электронного газа с потоком заряженных частиц в условиях действия электромагнитного излучения / В. И. Кравченко [и др.] // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Техніка та електрофізика високих напруг = Bulletin of National Technical University "KhPI" : coll. of sci. papers. Ser. : Technique and Electrophysics of High Voltage. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 14 (1186). – С. 49-52.
Краткий осмотр (реферат): В работе получено кинетическое уравнение для поверхностных плазмонов 2D системы, описывающее их взаимодействие с электронным потоком, движущимся по нормали к границе раздела сред. Предполагается, что газ локализован вблизи дельтовидной потенциальной ямы. Найден инкремент неустойчивости. Величина инкремента обратно пропорциональна времени пролета частиц сквозь 2D электронную систему. Получены аналитические решения задач взаимодействия токов, приведенных внешним электромагнитным излучением, с собственными электромагнитными колебаниями структур комплектующих полупроводниковые приборы, в условиях режима неустойчивости (генерации) колебаний. Определены расчетные соотношения для количественных характеристик обратных отказов (степени отклонения ВАХ от нормы) полупроводниковых приборов в зависимости от параметров внешнего электромагнитного излучения и физических качеств материалов, комплектующих приборы.
The paper obtained kinetic equation for surface plasmons 2D system, describing their interaction with the electron flow, which moves along the normal to the limit distribution environments. It is assumed that the gas is localized near the potential well of the deltoid. Found instability increment. The value of the growth rate is inversely proportional to the time of flight of the particles through the 2D electron system. The analytical solution of problems of interaction of currents given external electromagnetic radiation, electromagnetic waves with their own structures of components, semiconductor devices in a mode of instability (generation) oscillations.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/22014
Располагается в коллекциях:Вісник № 14
Публікації співробітників (НДПКІ "Молнія" НТУ "ХПІ")

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
vestnik_KhPI_2016_14_Kravchenko_Vzaimodeystvie.pdf359 kBAdobe PDFЭскиз
Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.