Кинетические механизмы взаимодействия поверхностных колебаний с электронами проводимости полупроводниковых структур в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения
Вантажиться...
Дата
2006
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Показано, что действие импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на электроизделия часто сопровождается возникновением токов в проводящих элементах ЭРВ и образованием их внутренних полей. Определены механизмы возникновения неустойчивостей собственных колебаний полупроводниковых надграт, обусловленных их взаимодействием с потоками заряженных частиц в условиях действия постороннего ЭМИ.
The influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arcsing on inner current–conducting elements as well as by the distortion of their internal fields. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor structure have been determined.
The influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arcsing on inner current–conducting elements as well as by the distortion of their internal fields. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor structure have been determined.
Опис
Ключові слова
отказы необратимые, ток электрический, напряжение, частицы заряженные, затухание бесстолкновительное, плазмоны поверхностные, уравнение дисперсионное, волны Ван-Кампена
Бібліографічний опис
Кравченко В. И. Кинетические механизмы взаимодействия поверхностных колебаний с электронами проводимости полупроводниковых структур в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Ф. В. Лосев // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Техника и электрофизика высоких напряжений. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2006. – № 37. – С. 36-43.