Повышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехи

Ескіз

Дата

2009

ORCID

DOI

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Отримано оцінку чутливості теплової дефектоскопії (параметри порогових дефектів) для широкого кола материалів, що дозволяє потенціальному споживачеві визначити застосовність даного методу. Запропоновано підхід до оптимізації режиму теплової дефектоскопії, що дозволяє підвищити відношення сигнал/шум, а отже і чутливість методу.
Infrared testing sensitivity estimation (threshold detectable defect characteristics) for a wide number of materials is obtained. It allows prospective consumer to appraise this method applicability. Infrared testing procedure optimization approach that allows to raise SNR and therefore method sensitivity is proposed.

Опис

Ключові слова

объект контроля, температурное поле, внешний источник тепла, коэффициент излучения, параметры пороговых дефектов

Бібліографічний опис

Малик С. Б. Повышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехи / С. Б. Малик, А. В. Мягкий, А. В. Стороженко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Электроэнергетика и преобразовательная техника. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2009. – № 14. – С. 49-52.

Колекції

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced