Электронно-микроскопическое исследование тонкопленочных кристаллов Cr₂O₃ с использованием дифракционного метода изгибных контуров

Abstract

Исследована структура, ориентировка и особенности роста кристаллов, растущих в аморфных конденсатах стехиометрического состава Cr₂O₃ в процессе отжига. Основная часть исследований проведена методами просвечивающей электронной микроскопии, в частности - дифракционным методом изгибных экстинкционных контуров. Определена ориентация зародышей кристаллитов. Обнаружен двухосевой изгиб кристаллической решетки, зависящий от ориентировки зародыша кристалла. Выявлено влияние ориентировки кристалла на анизотропию скорости кристаллизации и морфологию кристаллитов.Structure, lattice orientation and peculiarities of crystal growth in amorphous Cr₂O₃ deposits of stoichiometric composition were investigated. The main part of research work was performed by transmission electron microscopy, in particular – using diffraction method: bend contour technique. The orientations of crystal nuclei were determined. Two-dimensional bending of crystals lattice planes, depending on crystal nuclei orientation was observed. The influence of crystal orientation on anisotropy of crystallization rate and morphology of the crystals was revealed.