Качество восстановления изображений "слепым" методом
Вантажиться...
Дата
2018
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Рассмотрен слепой статистический итерационный метод реконструкции изображений поверхности объекта на базе независимого компонентного анализа. Проведено математическое моделирование изображений, содержащих произвольные объекты на фоне белого шума. Полученный модернизированный алгоритм для случая непараметрической неопределенности опробован на моделях изображений и показано, что он обладает сверхразрешающими свойствами.
The paper deals with a blind statistical iteration method for recovering object surface images based on the independent component analysis. The mathematical modeling of images of arbitrary objects on a white noise background is carried out. The improved algorithm obtained for the case of non-parametric uncertainty is tested on the image models and is proved to possess superresolution properties.
The paper deals with a blind statistical iteration method for recovering object surface images based on the independent component analysis. The mathematical modeling of images of arbitrary objects on a white noise background is carried out. The improved algorithm obtained for the case of non-parametric uncertainty is tested on the image models and is proved to possess superresolution properties.
Опис
Ключові слова
слепой метод восстановления, независимый компонентный анализ, компонентный базис, число компонент, число наблюдений, обратная матрица, independent component analisys, componential base, number of components, inverse matrix
Бібліографічний опис
Бей А. И. Качество восстановления изображений "слепым" методом / А. И. Бей // Вісник Національного технічного університету "ХПІ". Сер. : Математичне моделювання в техніці та технологіях = Bulletin of the National Technical University "KhPI". Ser. : Mathematical modeling in engineering and technologies : зб. наук. пр. – Харків : НТУ "ХПІ", 2018. – № 3 (1279). – С. 15-18.