Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/37735
Title: Математичне моделювання конструкцій фільтрів НВЧ на основі тонких діелектричних резонаторів та методи вимірювання їх параметрів
Other Titles: Mathematical modeling of microwave filters based on thin dielectric resonators and methods for measuring their parameters
Authors: Татарчук, Дмитро Дмитрович
Діденко, Юрій Вікторович
Поправка, Анастасія Павлівна
Браге, Ксенія Сергіївна
Keywords: діелектрик; надвисокі частоти; параметри матеріалів; рівняння Гельмгольца; measurement methods; ultrahigh frequencies; material parameters
Issue Date: 2018
Publisher: НТУ "ХПІ"
Citation: Математичне моделювання конструкцій фільтрів НВЧ на основі тонких діелектричних резонаторів та методи вимірювання їх параметрів / Д. Д. Татарчук [та ін.] // Вісник Національного технічного університету "ХПІ". Сер. : Математичне моделювання в техніці та технологіях = Bulletin of the National Technical University "KhPI". Ser. : Mathematical modeling in engineering and technologies : зб. наук. пр. – Харків : НТУ "ХПІ", 2018. – № 3 (1279). – С. 124-131.
Abstract: Розглянуто основні принципи створення фільтрів надвисоких частот на основі тонких діелектричних резонаторів. Наведено варіанти конструкцій фільтрів НВЧ. Приведено математичну модель розрахунку резонансноїчастоти фільтру, граничні умови та метод їх розрахунку. Описано методику вимірювання параметрів фільтрів і наведено результати теоретичних та експериментальних досліджень обраних конструкцій. Проведено аналіз отриманих результатів: порівняно розраховані та виміряні результати, розглянуто методи вимірювання параметрів діелектричних матеріалів на основі тонких резонаторів, проведено дослідження матеріалів одним із методів.
In the article the basic principles of creating microwave filters based on thin dielectric resonators are considered. Examples of designs of microwave filters are given. The mathematical model of the filter, the boundary conditions and the method for calculating the filter are given. A technique for measuring parameters is described and the results of theoretical and experimental studies of selected filter designs are presented. The results obtained are analyzed by comparing the computed results with the measured ones. Also in the article methods of measuring the parameters of dielectric materials on the basis of thin dielectric resonators are considered, and materials are investigated by one of the methods.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/37735
Appears in Collections:Вісник № 03

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
vestnik_KhPI_2018_3_Tatarchuk_Matematychne_modeliuvannia.pdf832,95 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.