Спосіб випробування зразків в температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність
Вантажиться...
Дата
2006
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
ДП "Український інститут промислової власності"
Анотація
Спосіб випробування зразків в температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність, який включає розігрів всієї довжини бази зразка до заданої температури двома джерелами тепла з одночасною компенсацією його температурного розширення, навантаження зразка за допомогою тяги прямого навантаження та надання тязі прямого навантаження швидкості вільної деформації зразка, який відрізняється тим, що при досягненні температури на зразку 80 % від заданого значення інтенсивність розігріву зразка зменшують втричі; при досягненні температури на зразку 95 % від заданого значення інтенсивність розігріву ще зменшують втричі. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що проводять фіксацію моменту рівномірного розігріву всієї довжини бази зразка до температури випробувань та здійснюють в цей момент: вимикання розігріву та подачу команди на випробування зразка з застосування постійного вантажу, після зниження температури за базі зразка на 5 % від температури випробування знову вмикають її розігрів.
Опис
Ключові слова
деклараційний патент, корисна модель, техніка випробування матеріалів, деформація, точність, інтенсивність розігріву
Бібліографічний опис
Деклараційний пат. на корисну модель 15924 Україна, МПК (2006) G01N 3/18. Спосіб випробування зразків в температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність / Хорошилов О. М., Шатагин О. О., Пономаренко О. І., Довгопола О. Ю. ; власник НТУ "ХПІ" (Україна). – № u200601204 ; заявл. 07.02.2006 ; опубл. 17.07.2006, Бюл. № 7. – 3 с. : іл.