Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
ДП "Український інститут промислової власності"
Анотація
Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність, який містить верхню та нижню тяги з вузлами кріплення головок зразків, причому нижня тяга є тягою прямого навантаження або якорем електромагніта; опору, встановлену в тарілці компенсатора, яка (опора) містить вертикальний та горизонтальний отвори, циліндричний штир, установлений в вертикальному отворі опори, циліндричний фіксуючий штир, який встановлений в горизонтальному отворі опори, який відрізняється тим, що фіксуючий штир опори з'єднують з пряморухомим якорем індукційної котушки електромагніта, при цьому відстань між тягою прямого навантаження та верхнім кордоном опори складає не менше 0,5 довжини бази L зразка.
Опис
Бібліографічний опис
Пат. на корисну модель 17741 Україна, МПК (2006) G01N 3/18. Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність / Хорошилов О. М., Пономаренко О. І., Шатагин О. О. ; власник НТУ "ХПІ" (Україна). – № u200603571 ; заявл. 03.04.2006 ; опубл. 16.10.2006, Бюл. № 10. – 3 с. : іл.