Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність
Вантажиться...
Дата
2006
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
ДП "Український інститут промислової власності"
Анотація
Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність, який містить верхню та нижню тяги з вузлами кріплення головок зразків, причому нижня тяга є тягою прямого навантаження або якорем електромагніта; опору, встановлену в тарілці компенсатора, яка (опора) містить вертикальний та горизонтальний отвори, циліндричний штир, установлений в вертикальному отворі опори, циліндричний фіксуючий штир, який встановлений в горизонтальному отворі опори, який відрізняється тим, що фіксуючий штир опори з'єднують з пряморухомим якорем індукційної котушки електромагніта, при цьому відстань між тягою прямого навантаження та верхнім кордоном опори складає не менше 0,5 довжини бази L зразка.
Опис
Ключові слова
патент, корисна модель, техніка випробування матеріалів, рухомий якір, автоматичний компенсатор, циліндричний штир
Бібліографічний опис
Пат. на корисну модель 17741 Україна, МПК (2006) G01N 3/18. Пристрій для випробування зразків у температурному інтервалі кристалізації на повзучість та довготривалу міцність / Хорошилов О. М., Пономаренко О. І., Шатагин О. О. ; власник НТУ "ХПІ" (Україна). – № u200603571 ; заявл. 03.04.2006 ; опубл. 16.10.2006, Бюл. № 10. – 3 с. : іл.