Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52622
Title: Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей
Authors: Черных, Елена Петровна
Шеин, Александр Николаевич
Keywords: тонкоплёночный слой; пленочная полупроводниковая структура; компьютерная программа; коэффициент пропускания; коэффициент преломления материалов; длина волны
Issue Date: 2013
Publisher: Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Citation: Черных Е. П. Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей / Е. П. Черных, М. Ю. Шеин // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я (MicroCAD–2013) : наук. вид. : тези доп. 21-ї міжнар. наук.-практ. конф., [29-31 травня 2013 р.] : у 4 ч. Ч. 4 / ред. Л. Л. Товажнянський. – Харків : НТУ "ХПІ", 2013. – С. 55.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52622
Appears in Collections:Кафедра "Обчислювальна техніка та програмування"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MicroCAD_2013_Chernykh_Kompyuternoe.pdf334,95 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.