Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей
Дата
2013
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
тонкоплёночный слой, пленочная полупроводниковая структура, компьютерная программа, коэффициент пропускания, коэффициент преломления материалов, длина волны
Бібліографічний опис
Черных Е. П. Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей / Е. П. Черных, М. Ю. Шеин // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я (MicroCAD–2013) : наук. вид. : тези доп. 21-ї міжнар. наук.-практ. конф., [29-31 травня 2013 р.] : у 4 ч. Ч. 4 / ред. Л. Л. Товажнянський. – Харків : НТУ "ХПІ", 2013. – С. 55.