Оптическое детектирование нестационарной кинетики модификации атомарных криокристаллов электронными возбуждениями
Дата
2014
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Анотація
Предложена методика оптического детектирования процессов образования точечных дефектов, используя кинетический анализ эволюции спектров люминесценции атомарных криокристаллов под облучением.
Опис
Ключові слова
дефектообразование, инертные элементы, олученные кристаллы, MTE-центр
Бібліографічний опис
Масалитина Н. Ю. Оптическое детектирование нестационарной кинетики модификации атомарных криокристаллов электронными возбуждениями / Н. Ю. Масалитина, О. Н. Близнюк, А. Н. Огурцов // Фундаментальные проблемы оптики–2014 : сб. тр. 8-й Междунар. конф., 20-24 октября 2014 г. / ред.: В. Г. Беспалов, С. А. Козлов. – Санкт-Петербург : НИУ ИТМО, 2014. – С. 110-113.