Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Title: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии"
Authors: Пупань, Лариса Ивановна
Keywords: туннельный микроскоп; наноматериалы; атомный силовой микроскоп; магнитный силовой микроскоп; электростатический силовой микроскоп; сканирующий фрикционный микроскоп; игла-зонд; атомно-силовая микроскопия
Issue Date: 2011
Publisher: НТУ "ХПИ"
Citation: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Appears in Collections:Кафедра "Інтегровані технології машинобудування ім. М. Ф. Семка"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
prohramy_2011_Metody_skaniruyushchey.pdf1,51 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.