Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Название: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии"
Авторы: Пупань, Лариса Ивановна
Ключевые слова: туннельный микроскоп; наноматериалы; атомный силовой микроскоп; магнитный силовой микроскоп; электростатический силовой микроскоп; сканирующий фрикционный микроскоп; игла-зонд; атомно-силовая микроскопия
Дата публикации: 2011
Издательство: НТУ "ХПИ"
Библиографическое описание: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Располагается в коллекциях:Кафедра "Інтегровані технології машинобудування ім. М. Ф. Семка"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
prohramy_2011_Metody_skaniruyushchey.pdf1,51 MBAdobe PDFЭскиз
Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.