Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Назва: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии"
Автори: Пупань, Лариса Ивановна
Ключові слова: туннельный микроскоп; наноматериалы; атомный силовой микроскоп; магнитный силовой микроскоп; электростатический силовой микроскоп; сканирующий фрикционный микроскоп; игла-зонд; атомно-силовая микроскопия
Дата публікації: 2011
Видавництво: НТУ "ХПИ"
Бібліографічний опис: Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478
Розташовується у зібраннях:Кафедра "Інтегровані технології машинобудування ім. М. Ф. Семка"

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
prohramy_2011_Metody_skaniruyushchey.pdf1,51 MBAdobe PDFЕскіз
Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.