Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии"
Дата
2011
Автори
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Опис
Ключові слова
туннельный микроскоп, наноматериалы, атомный силовой микроскоп, магнитный силовой микроскоп, электростатический силовой микроскоп, сканирующий фрикционный микроскоп, игла-зонд, атомно-силовая микроскопия
Бібліографічний опис
Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с.