Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478| Title: | Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" |
| Authors: | Пупань, Лариса Ивановна |
| Keywords: | туннельный микроскоп; наноматериалы; атомный силовой микроскоп; магнитный силовой микроскоп; электростатический силовой микроскоп; сканирующий фрикционный микроскоп; игла-зонд; атомно-силовая микроскопия |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | НТУ "ХПИ" |
| Citation: | Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с. |
| URI: | http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478 |
| Appears in Collections: | Кафедра "Інтегровані технології машинобудування ім. М. Ф. Семка" |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| prohramy_2011_Metody_skaniruyushchey.pdf | 1,51 MB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.