Nanostructure of amorphous films
Вантажиться...
Дата
2017
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
Інститут фізики напівпровідників ім. В. Лашкарьова НАН України
Анотація
У роботі представлені результати експериментальних і теоретичних досліджень тонких халькогенідних плівок на рівні наноструктури. Просвітна електронна мікроскопія продемонструвала аморфну кластерну структуру. Отримано та проаналізовано рівняння для параметрів порядку в межах кластера.
The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.
The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.
Опис
Ключові слова
халькогенідна тонка плівка, нанокластер, кластерний зв`язок, параметри порядку, потенційний рельєф, chalcogenide thin film, nanocluster, cluster bond, order parameters, potential relief
Бібліографічний опис
Nanostructure of amorphous films / N. L. Dyakonenko [at al.] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics (SPQEO) = Фізика напівпровідників, квантова електроніка та оптоелектроніка (SPQEO). – 2017. – V. 20, N 2. – P. 199-203.