Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56665
Title: Nanostructure of amorphous films
Authors: Dyakonenko, N. L.
Lykah, V. A.
Sinelnik, A. V.
Korzh, I. A.
Bilozertseva, V. I.
Keywords: халькогенідна тонка плівка; нанокластер; кластерний зв`язок; параметри порядку; потенційний рельєф; chalcogenide thin film; nanocluster; cluster bond; order parameters; potential relief
Issue Date: 2017
Publisher: Інститут фізики напівпровідників ім. В. Лашкарьова НАН України
Citation: Nanostructure of amorphous films / N. L. Dyakonenko [at al.] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics (SPQEO) = Фізика напівпровідників, квантова електроніка та оптоелектроніка (SPQEO). – 2017. – V. 20, N 2. – P. 199-203.
Abstract: У роботі представлені результати експериментальних і теоретичних досліджень тонких халькогенідних плівок на рівні наноструктури. Просвітна електронна мікроскопія продемонструвала аморфну кластерну структуру. Отримано та проаналізовано рівняння для параметрів порядку в межах кластера.
The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56665
Appears in Collections:Кафедра "Фізика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
SPQEO_2017_20_2_ Dyakonenko_Nanostructure_of_amorphous.pdf276,66 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.