Interdiffusion in Sc/Si multilayers
Дата
2008
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
ESRF
Анотація
Опис
Ключові слова
interdiffusion in nano-scale multilayers, soft X-ray mirrors, kinetics of silicide, взаємодифузія в наномасштабних багатошарах, м'які рентгенівські дзеркала, кінетика силіциду
Бібліографічний опис
Interdiffusion in Sc/Si multilayers / Dmitriy L. Voronov [et al.] // Physics of X-ray Multilayer Structures : Books of Abstracts "The 9th International Conference on the Physics of X-ray Multilayer Structures" (PXRMS), February 3-7, 2008. – Montana, USA, 2008. – [P. 2].