Back surface reflector optimization for thin single crystalline silicon solar cells
Вантажиться...
Дата
2007
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals"
Анотація
It has been shown that for single crystalline silicon solar cells (Si-SC) with 180-200 μm thick base crystals, the optimum back surface reflector (BSR) is TiO₂/Al with 0.18 μm thick oxide layer. At such BSR, the reflection coefficient for photoelectric active sunlight reaching the back surface of Si-SC at 0.88-1.11 μm wavelengths attains 81 to 92 % against of 71 to 87 % at direct Al contact with back surface of silicon base crystal.
Було показано, що для монокристалічних кремнієвих сонячних елементів (Si-SC) з базовими кристалами товщиною 180-200 мкм оптимальним відбивачем задньої поверхні (BSR) є TiO₂/Al з шаром оксиду товщиною 0,18 мкм. При такому BSR коефіцієнт відбиття фотоелектричного активного сонячного світла, що досягає тильної поверхні Si-SC на довжинах хвиль 0,88-1,11 мкм, досягає 81-92 % проти 71-87 % при прямому контакті Al із тильною поверхнею кремнієвого базового кристала.
Було показано, що для монокристалічних кремнієвих сонячних елементів (Si-SC) з базовими кристалами товщиною 180-200 мкм оптимальним відбивачем задньої поверхні (BSR) є TiO₂/Al з шаром оксиду товщиною 0,18 мкм. При такому BSR коефіцієнт відбиття фотоелектричного активного сонячного світла, що досягає тильної поверхні Si-SC на довжинах хвиль 0,88-1,11 мкм, досягає 81-92 % проти 71-87 % при прямому контакті Al із тильною поверхнею кремнієвого базового кристала.
Опис
Ключові слова
single crystalline silicon solar cells, reflection coefficient, photoelectric active sunlight, silicon base crystal, хімічні реакції, сонячна енергія, електрична енергія, кристали кремнію
Бібліографічний опис
Back surface reflector optimization for thin single crystalline silicon solar cells / V. R. Kopach [et al.] // Functional Materials. – 2007. – Vol. 14, No. 4. – P. 555-561.