Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС)

Вантажиться...
Ескіз

Дата

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник/консультант

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

В статье рассмотрены основные проблемы формирования методики оценки ОИС, вопросы определения экономической значимости ОИС в хозяйственной деятельности предприятий.
In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises

Опис

Бібліографічний опис

Каретникова В. С. Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) / В. С. Каретникова, Л. А. Кременчутская // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Технический прогресс и эффективность производства. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 16. – С. 125-127.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в