Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7230| Title: | Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) |
| Authors: | Каретникова, В. С. Кременчутская, Любовь Алексеевна |
| Keywords: | объекты интеллектуальной собствености; стоимовая оценка; экономический эффект; инновационный продукт |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | НТУ "ХПИ" |
| Citation: | Каретникова В. С. Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) / В. С. Каретникова, Л. А. Кременчутская // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Технический прогресс и эффективность производства. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 16. – С. 125-127. |
| Abstract: | В статье рассмотрены основные проблемы формирования методики оценки ОИС, вопросы определения экономической значимости ОИС в хозяйственной деятельности предприятий. In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises |
| URI: | http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7230 |
| Appears in Collections: | Вісник № 16 Кафедра "Економіка бізнесу і міжнародні економічні відносини" |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| vestnik_HPI_2012_16_Karetnikova_Metodicheskiye.pdf | 414,3 kB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.