Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС)
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
В статье рассмотрены основные проблемы формирования методики оценки ОИС, вопросы определения экономической значимости ОИС в хозяйственной деятельности предприятий.
In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises
In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises
Опис
Бібліографічний опис
Каретникова В. С. Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) / В. С. Каретникова, Л. А. Кременчутская // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Технический прогресс и эффективность производства. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 16. – С. 125-127.