Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС)
Дата
2012
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
В статье рассмотрены основные проблемы формирования методики оценки ОИС, вопросы определения экономической значимости ОИС в хозяйственной деятельности предприятий.
In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises
In the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprises
Опис
Ключові слова
объекты интеллектуальной собствености, стоимовая оценка, экономический эффект, инновационный продукт
Бібліографічний опис
Каретникова В. С. Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) / В. С. Каретникова, Л. А. Кременчутская // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Технический прогресс и эффективность производства. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 16. – С. 125-127.