Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/9162
Title: Механизмы отказов полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий при воздействии внешнего электромагнитного излучения
Other Titles: Failure mechanism of semiconductor components under the influence of external electrical radio electromagnetic radiation
Authors: Кравченко, Владимир Иванович
Яковенко, Игорь Владимирович
Keywords: излучение импульсное; элементы проводящие; ток; колебания; частицы заряженные; поток; electromagnetic radiation; semiconductor superstructure
Issue Date: 2014
Publisher: НТУ "ХПИ"
Citation: Кравченко В. И. Механизмы отказов полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий при воздействии внешнего электромагнитного излучения / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Техника и электрофизика высоких напряжений. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 21 (1064). – С. 84-87.
Abstract: Показано, что влияние импульсного электромагнитного излучения сопровождается возникновением токов в проводящих элементах изделий и возникновением их внутренних полей. Определены механизмы генерации колебаний полупроводниковых структур, обусловленных их взаимодействием с потоками заряженных частиц в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения.
The influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arcsing on inner current – conducting elements as well as by the distortion of their internal fields. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor superstructure have been determined.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/9162
Appears in Collections:Вісник № 21
Кафедра "Системи інформації"
Публікації співробітників (НДПКІ "Молнія" НТУ "ХПІ")

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
vestnik_HPI_2014_21_Kravchenko_Mekhanizmy.pdf338,41 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.