До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією
Вантажиться...
Дата
2011
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
НТУ "ХПІ"
Анотація
Проаналізовано затухання електромагнітного поля в напівпровідних екранах кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією на напругу 330 кВ. Досліджено вплив товщини екрану по жилі на товщину ізоляції кабелю.
Fading of the electromagnetic field is analysed in the semiconductor screens of cables with the sewn together polyethylene isolation on tension 330 kV. Influencing of thickness of screen on a tendon on the thickness of isolation of cable is explored.
Fading of the electromagnetic field is analysed in the semiconductor screens of cables with the sewn together polyethylene isolation on tension 330 kV. Influencing of thickness of screen on a tendon on the thickness of isolation of cable is explored.
Опис
Ключові слова
електромагнітне поле, напруга, товщина екрану, товщина кабелю
Бібліографічний опис
Щебенюк Л. А. До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією / Л. А. Щебенюк, В. М. Кириленко, О. В. Голик // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ". – 2011. – № 3. – С. 158-163.