Оптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделирования

dc.contributor.authorСтороженко, В. А.ru
dc.contributor.authorМалик, С. Б.ru
dc.contributor.authorМягкий, А. В.ru
dc.date.accessioned2018-02-23T12:47:09Z
dc.date.available2018-02-23T12:47:09Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractРозроблено нову теплофізичну модель процесу теплової дефектоскопії, яка більш повно відображує цей процес шляхом врахування теплопередачі через дефект та обмеження температури нагрівання матеріалу. На основі аналізу моделі запропоновано методику оптимізації режиму проведення теплової дефектоскопії критерієм максимізації відношення сигнал/шум, яке враховує флуктуації випромінювальної здатності об’єкту контролю і нерівномірність нагріву.uk
dc.description.abstractThe new thermophysical model of infrared testing process is presented. This model is more adequate and it allows for heat transfer through defect and material reheat temperature limitations. Infrared testing conditions optimization technique based on the analysis of this model is proposed. The SNR maximization criteriais used in this technique andit takes into account testing object emittance fluctuations and heating nonuniformity.en
dc.identifier.citationСтороженко В. А. Оптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделирования / В. А. Стороженко, С. Б. Малик, А. В. Мягкий // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Приборы и методы контроля и определения состава веществ. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2008. – № 48. – С. 50-54.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/34727
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectТДСru
dc.subjectобъект контроляru
dc.subjectОКru
dc.subjectдифференциальные уравненияru
dc.subjectтемператураru
dc.subjectтеплофизическая модельru
dc.subjectдефектыru
dc.titleОптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделированияru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
vesntik_KhPI_2008_48_Storozhenko_Optimizatsiya.pdf
Розмір:
372.18 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.21 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Зібрання