Анализ резонансных систем для измерения электрофизических параметров веществ

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЧеренков, Александр Даниловичru
dc.contributor.authorКунденко, Н. П.ru
dc.date.accessioned2014-02-08T08:53:13Z
dc.date.available2014-02-08T08:53:13Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractПроведено анализ использования резонансных систем для измерение электрофизических свойств веществ, имеющих большие потери в коротковолновой части миллиметрового и субмиллиметровом диапазонах с использованием адекватных этим диапазонам длин волнru
dc.description.abstractThe analysis of resonant systems for the measurement of the electrophysical properties of substances with large losses in the short millimeter and submillimeter ranges using appropriate ranges of these wavelengthsen
dc.identifier.citationЧеренков А. Д. Анализ резонансных систем для измерения электрофизических параметров веществ / А. Д. Черенков, Н. П. Кунденко // Энергосбережение. Энергетика. Энергоаудит = Energy saving. Power engineering. Energy audit. – 2012. – № 3. – С. 56-62.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/3980en
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectбиологические объектыru
dc.subjectдиапазонru
dc.subjectрезонаторru
dc.subjectдлина волныru
dc.subjectкоэффициент заполненияru
dc.subjectнагруженная добротностьru
dc.titleАнализ резонансных систем для измерения электрофизических параметров веществru
dc.title.alternativeResonance analysis system for measuring the parameters of substances electrophysicalen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
EEE_2012_3_Cherenkov_Analiz rezonansnykh.pdf
Розмір:
414.97 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
6.73 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Кафедра "Туризм i готельно-ресторанний бізнес"