Товщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTe

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorНіколаєнко, Ганна Олександрівнаuk
dc.contributor.authorРогачова, Олена Іванівнаuk
dc.date.accessioned2021-04-16T15:26:23Z
dc.date.available2021-04-16T15:26:23Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractОдержано залежностi електропровiдностi σ i коефiцiєнта Холла Rн тонких полiкристалiчних плiвок GeTe вiд їх товщини (d = 30-210 нм) за кiмнатної температури. Встановлено, що методом термiчного випаровування полiкристалiв GeTe можна отримати тонкi плiвки GeTe/KCl зi значеннями концентрацiй дiрок меншими, нiж у кристалi, майже в два рази. При зростаннi товщини плiвок до d ~ 80 нм спостерiгається рiзке збiльшення значень σ i холлiвської рухливостi носiїв заряду μн, а при подальшому зростаннi d значення μн майже не змiнюються, а значення σ змiнюються з меншою швидкiстю, що вказує на наявнiсть класичного розмiрного ефекту у тонких плiвках GeTe.uk
dc.description.abstractThe dependences of conductivity σ and Hall coefficient Rн of GeTe thin polycrystalline films on its thickness (d = 30-210 nm) at the room temperature were obtained. It was found that GeTe/KCl thin films can be obtained by thermal evaporation polycrystalline GeTe with values of the holes concentration almost twice smaller than the values in the bulk materials. With the growth of the films thickness up to d ~ 80 nm a sharp σ values and Hall mobility μн values increasing is observed, at the further d increasing the μH values are virtually unchanged, while the σ values change at a lower rate, which indicates the presence of the classical size effect in GeTe thin films.en
dc.identifier.citationНіколаєнко Г. О. Товщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTe / Г. О. Ніколаєнко, О. І. Рогачова // Вісник Львівського університету. Серія фізична = Visnyk of the Lviv University. Series Physics : зб. наук. пр. – Львів : ЛНУ, 2013. – Вип. 48. – С. 85-90.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52215
dc.language.isouk
dc.publisherЛьвівський національний університет ім. Івана Франкаuk
dc.subjectтелурид германiюuk
dc.subjectтонкi плiвкиuk
dc.subjectкласичний розмiрний ефектuk
dc.subjectкристалічний станuk
dc.subjectкоефiцiєнт Холлаuk
dc.subjectgermanium tellurideen
dc.subjectthin filmsen
dc.subjectgalvanomagnetic propertiesen
dc.subjectclassic size effecten
dc.titleТовщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTeuk
dc.title.alternativeThickness dependences of galvanomagnetic properties of the GeTe filmsen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
visnyk_LU_2013_48_Nikolaienko_Tovshchynni_zalezhnosti.pdf
Розмір:
186.76 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Кафедра "Фізика"