Суцільний контроль дефектності емальізоляції при випробуванні високою напругою на прохід

dc.contributor.authorАнтонець, Ю. А.uk
dc.contributor.authorГурин, Анатолій Григоровичuk
dc.contributor.authorГолик, Оксана Вячеславівнаuk
dc.date.accessioned2016-05-19T08:31:28Z
dc.date.available2016-05-19T08:31:28Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractВиконано аналіз результатів контролю процесу виготовлення емальпровода при високих швидкостях роботи сучасного обладнання, на якому передбачений комп'ютерний моніторинг кількості слабких місць в емальізоляціі. Розроблено інтегральний показник дефектності ізоляції емальпроводів і методика його визначення.uk
dc.description.abstractThe analysis of datas of monitoring of the technological process is carried out of enamelled wire attached to high work speeds of contemporary equipment, on which a computer number monitoring foreseen of damages of isolating enamel layer. Development of an integrated parameter of presence of defects of isolation of enameled wire and technique of its definition.en
dc.identifier.citationАнтонець Ю. А. Суцільний контроль дефектності емальізоляції при випробуванні високою напругою на прохід / Ю. А. Антонець, А. Г. Гурин, О. В. Голик // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – № 45. – С. 3-8.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/21570
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectінформативністьuk
dc.subjectкотушкаuk
dc.subjectемальпровідuk
dc.subjectспівполімер поліаміднийuk
dc.subjectтемператураuk
dc.subjectвипробування неруйнівніuk
dc.titleСуцільний контроль дефектності емальізоляції при випробуванні високою напругою на прохідuk
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2010_45_Antonets_Sutsilnyi.pdf
Розмір:
535.86 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: