Вісники НТУ "ХПІ"

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/2494


З 1961 р. у ХПІ видається збірник наукових праць "Вісник Харківського політехнічного інституту".
Згідно до наказу ректора № 158-1 від 07.05.2001 року "Про упорядкування видання вісника НТУ "ХПІ", збірник був перейменований у Вісник Національного Технічного Університету "ХПІ".
Вісник Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут" включено до переліку спеціалізованих видань ВАК України і виходить по серіях, що відображають наукові напрямки діяльності вчених університету та потенційних здобувачів вчених ступенів та звань.
Зараз налічується 30 діючих тематичних редколегій. Вісник друкує статті як співробітників НТУ "ХПІ", так і статті авторів інших наукових закладів України та зарубіжжя, які представлені у даному розділі.

Переглянути

Фільтри

2008 - 200912010 - 20131

Налаштування

Автор: search.filters.author.Караман, Дмитрий Григорьевич

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Методы функционального диагностирования ошибок шифрования в симметричных криптографических системах
    (НТУ "ХПИ", 2008) Дербунович, Леонид Викторович; Караман, Дмитрий Григорьевич
    Проведено аналіз існуючих рішень з виявлення несправностей та помилок у симетричних криптографічних системах. Розглянуто аналітичну модель поширення помилок. Запропоновано узагальнену методику діагностування помилок шифрування, яка базується на спільних операціях, які використовуються у більшості криптографічних алгоритмів.
  • Ескіз
    Документ
    Тестовое диагностирование динамических систем на функциональном уровне
    (НТУ "ХПИ", 2013) Дербунович, Леонид Викторович; Караман, Дмитрий Григорьевич; Осипенко, Александр Николаевич
    This report presents test diagnosis method of dynamic systems under transient processes. Impulse actions supplied to system inputs are treated as tests and geometric images of transient characteristics are considered as diagnostic parameters. The standard geometric images of the dynamic system have been represented in the digital approximate model of the stack memory automaton (SM-automaton). The example of the test diagnostics technique is shown for dynamic system of the forth degree.