Вісники НТУ "ХПІ"

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/2494


З 1961 р. у ХПІ видається збірник наукових праць "Вісник Харківського політехнічного інституту".
Згідно до наказу ректора № 158-1 від 07.05.2001 року "Про упорядкування видання вісника НТУ "ХПІ", збірник був перейменований у Вісник Національного Технічного Університету "ХПІ".
Вісник Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут" включено до переліку спеціалізованих видань ВАК України і виходить по серіях, що відображають наукові напрямки діяльності вчених університету та потенційних здобувачів вчених ступенів та звань.
Зараз налічується 30 діючих тематичних редколегій. Вісник друкує статті як співробітників НТУ "ХПІ", так і статті авторів інших наукових закладів України та зарубіжжя, які представлені у даному розділі.

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Экспериментальная проверка метода определения профиля массивного соленоида, основанного на использовании системы кольцевых проводников
    (НТУ "ХПИ", 2018) Борцов, Александр Васильевич; Петренко, Никита Павлович
    Экспериментально проверен метод определения контура профиля массивных соленоидов для магнитно-импульсного обжима металлических цилиндрических заготовок, основанный на использовании системы элементарных кольцевых проводников бесконечно малого поперечного сечения и использовании соответствующей функции Грина. Профиль соленоида, ограниченный криволинейным контуром, аппроксимировали многоугольником. Для проведения экспериментов через соленоид пропускали импульсы тока, имеющие форму экспоненциально затухающей синусоиды. Индукцию магнитного поля измеряли индукционным преобразователем, а ток регистрировали при помощи бифилярного шунта, встроенного в низковольтный генератор импульсных токов. Установлено, что при вариации частоты импульса в диапазоне (40…225) кГц расхождения измеренных значений индукции магнитного поля от заданных не превышают 6 %, чем подтверждается правильность метода определения профиля соленоида при допущения идеального поверхностного эффекта.