Исследование методов диагностики легкотестируемых цифровых устройств и систем - Мирошник, М. А.; Клименко, Л. А.; Федорин, Д. Д. (ТОВ ВПП "Контраст", 2019)
Keywords: тестовый сигнал; работоспособное состояние; константные неисправности; статический режим; test signal; working condition; constant malfunctions; static mode