Щебенюк, Леся АртемівнаКириленко, В. М.Голик, Оксана Вячеславівна2014-12-112014-12-112011Щебенюк Л. А. До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією / Л. А. Щебенюк, В. М. Кириленко, О. В. Голик // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ". – 2011. – № 3. – С. 158-163.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/10794Проаналізовано затухання електромагнітного поля в напівпровідних екранах кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією на напругу 330 кВ. Досліджено вплив товщини екрану по жилі на товщину ізоляції кабелю.Fading of the electromagnetic field is analysed in the semiconductor screens of cables with the sewn together polyethylene isolation on tension 330 kV. Influencing of thickness of screen on a tendon on the thickness of isolation of cable is explored.ukелектромагнітне поленапругатовщина екранутовщина кабелюДо аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцієюArticle