Dyakonenko, N. L.Lykah, V. A.Sinelnik, A. V.Korzh, I. A.Bilozertseva, V. I.2022-04-292022-04-292017Nanostructure of amorphous films / N. L. Dyakonenko [at al.] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics (SPQEO) = Фізика напівпровідників, квантова електроніка та оптоелектроніка (SPQEO). – 2017. – V. 20, N 2. – P. 199-203.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56665У роботі представлені результати експериментальних і теоретичних досліджень тонких халькогенідних плівок на рівні наноструктури. Просвітна електронна мікроскопія продемонструвала аморфну кластерну структуру. Отримано та проаналізовано рівняння для параметрів порядку в межах кластера.The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.enхалькогенідна тонка плівкананокластеркластерний зв`язокпараметри порядкупотенційний рельєфchalcogenide thin filmnanoclustercluster bondorder parameterspotential reliefArticle