Электронно-микроскопическое исследование тонкопленочных кристаллов Cr₂O₃ с использованием дифракционного метода изгибных контуров - Колосов, В. Ю.; Швамм, К. Л.; Багмут, Александр Григорьевич; Григоров, С. Н. (Наука, 2004)
Исследована структура, ориентировка и особенности роста кристаллов, растущих в аморфных конденсатах стехиометрического состава Cr₂O₃ в процессе отжига. Основная часть исследований проведена методами просвечивающей электронной микроскопии, в частности - дифракционным методом изгибных экстинкционных контуров. Определена ориентация зародышей кристаллитов. Обнаружен двухосевой изгиб кристаллической решетки, зависящий от ориентировки зародыша кристалла. Выявлено влияние ориентировки кристалла на анизотропию скорости кристаллизации и морфологию кристаллитов.

Structure, lattice orientation and peculiarities of crystal growth in amorphous Cr₂O₃ deposits of stoichiometric composition were investigated. The main part of research work was performed by transmission electron microscopy, in particular – using diffraction method: bend contour technique. The orientations of crystal nuclei were determined. Two-dimensional bending of crystals lattice planes, depending on crystal nuclei orientation was observed. The influence of crystal orientation on anisotropy of crystallization rate and morphology of the crystals was revealed.
Electron Microscopy Study of Cr₂O₃ Thin Film Crystals Using Bend Contour Technique
Keywords: контур экстинкционный; решетка кристаллическая; картина зонно-осевая; кристаллы серповидные