Технологія внутрішньосхемного тестування - Смолін, Юрій Олександрович; Кононихін, О. Д. (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2025)
Keywords: внутрішньосхемне тестування; ICT-станції; голчасті адаптери; схеми друкованих плат; методи тестування; тестування літаючими щупами; тестування літаючими матрицями