Малик, С. Б.Мягкий, А. В.Стороженко, А. В.2017-06-122017-06-122009Малик С. Б. Повышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехи / С. Б. Малик, А. В. Мягкий, А. В. Стороженко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Электроэнергетика и преобразовательная техника. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2009. – № 14. – С. 49-52.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/30028Отримано оцінку чутливості теплової дефектоскопії (параметри порогових дефектів) для широкого кола материалів, що дозволяє потенціальному споживачеві визначити застосовність даного методу. Запропоновано підхід до оптимізації режиму теплової дефектоскопії, що дозволяє підвищити відношення сигнал/шум, а отже і чутливість методу.Infrared testing sensitivity estimation (threshold detectable defect characteristics) for a wide number of materials is obtained. It allows prospective consumer to appraise this method applicability. Infrared testing procedure optimization approach that allows to raise SNR and therefore method sensitivity is proposed.ruобъект контролятемпературное полевнешний источник теплакоэффициент излученияпараметры пороговых дефектовArticle