Компанеец, И. В.Шкилько, А. М.2017-04-242017-04-242010Компанеец И. В. Метрологическое обеспечение измерителя контактной разности потенциалов / И. В. Компанеец, А. М. Шкилько // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Новые решения в современных технологиях. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2010. – № 57. – С. 150-153.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28811Обоснован выбор основных параметров измерителя контактной разности потенциалов, которые подлежат определению при проведении метрологического обслуживания, а также приведены методы и средства для их определения.Selection of principal parameters of contact potential difference meter subject to determining during metrological servicing has been substantiated and associated determination methods and facilities are provided.ruнеразрушающий контрольконденсаторные методыметод динамического конденсаторакалибровкакоэффициент модуляцииArticle