Залежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці - Кукурудзяк, М. С. (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2023)
Keywords: електронна промисловість; напівпровідникові вироби; бракування; інтегральні мікросхеми; фотоприймачі; методи уникнення браку; розміщення на підкладці; дефектроутворення; різання підкладок; розміщення кристалів виробів