Федюшко, Ю. М.Черенков, А. Д.2015-07-202015-07-202009Федюшко Ю. М. Анализ систематической погрешности рефлектометрических систем для измерения диэлектрических параметров биообьектов / Ю. М. Федюшко, А. Д. Черенков // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Проблемы совершенствования электрических машин и аппаратов. Теория и практика. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2009. – № 7. – С. 146-149.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/16102Проведена оценка и анализ случайных погрешностей рефлектометра.The estimation and analysis of regular errors in a reflectometer are resulted.ruрефлектометрдиэлектрические параметрыбиообъектыимпульсный сигналdielectrical parametersreflectometerArticle