Bazdyreva, S. V.Fedchuk, N. V.Malykhin, S. V.Pugachov, A. T.Reshetnyak, M. V.Zubarev, Evgeniy N.2022-06-262022-06-262013The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477enmethodology for X-ray diffraction investigationicosahedral quasicrystalsікосаедричні квазікристаликількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалівспецифічні фазонні дефектианаліз ширини дифракційних лінійрентгенівські дифракціїThe methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructureМетодика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалівArticle