Кравченко, Владимир ИвановичЯковенко, Игорь ВладимировичГлухов, Евгений Владимирович2015-01-102015-01-102006Кравченко В. И. Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Е. В. Глухов // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 5. – С. 60-63.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/11241Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий, содержащих полупроводниковые сверхрешетки.Electromagnetic oscillation energy in a system of semiconducting plasma - charged particle flux is determined under the oscillation excitation in a submillimeter range. An analytical model of interaction mechanism for the electromagnetic oscillation and currents arising due to action of electromagnetic radiation in current - conducting elements of electric radio apparatus containing semiconductive super lattices is presented.ruэнергия излученияполупроводниковая плазмаэлектромагнитные токиэлектромагнитные излучениярадиоэлектронная аппаратураполупроводниковая электроникаelectromagnetic oscillation energysemiconducting plasma - charged particle flux systeminteraction mechanismanalytical modelelectric radio apparatusArticle