Гурин, Анатолій ГригоровичГолик, Оксана В'ячеславівнаЩебенюк, Леся АртемівнаГонтар, Юлія ГригорівнаАнтонець, Юрій Панасович2016-05-162016-05-162013Пат. 77272 Україна, МПК (2013.01) G01N 27/00. Спосіб визначення дефектів в шарі електричної ізоляції провідника [Текст] / А. Г. Гурин, О. В. Голик, Л. А. Щебенюк, Ю. Г. Гонтар, Ю. П. Антонець ; патентовласник Нац. техн. ун-т "ХПІ". – № u 2012 08203 ; заяв. 04.07.2012 ; публ. 11.02.2013, Бюл. № 3. – 5 с.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/21470Спосіб визначення дефектів в шарі електричної ізоляції провідника, який рухається між електродами, здійснюють шляхом вимірювання падіння напруги в шарі електричної ізоляції, який досліджують. Проводять одночасно вимірювання різниці потенціалів між ємнісними давачами, розташованими на поверхні шару електричної ізоляції, яку досліджують, на відстані один від одного, яка визначає розрізнюваність виявлених дефектів.ukпатентмодель кориснаелектротехнікаконтроль неруйнівнийкабель силовийнапругаTechnical Report