Копылец, Игорь АнатольевичПономаренко, А. Г.Дергун, С. М.Иванов, Н. Н.Захаров, А. В.2014-08-052014-08-052010Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 / И. А. Копылец [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – № 7, т. 76. – С. 33-36.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/8051Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтраruрентгенофлуоресцентный анализмногослойные интерференционные структурыспектрометр рентгеновский многоканальныйнижний предел обнаруженияалюминийArticle