Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 - Копылец, Игорь Анатольевич; Пономаренко, А. Г.; Дергун, С. М.; Иванов, Н. Н.; Захаров, Артем Вячеславович (Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, 2010)
Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтра
Keywords: рентгенофлуоресцентный анализ; многослойные интерференционные структуры; спектрометр рентгеновский многоканальный; нижний предел обнаружения; алюминий