Rogacheva, E. I.Doroshenko, A. N.Sipatov, A. Yu.Nashchekina, O. N.2023-01-282023-01-282019Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25 / E. I. Rogacheva, A. N. Doroshenko, A. Yu. Sipatov, O. N. Nashchekina // Нанорозмірні системи: будова, властивості, технології НАНСИС 2019 : тези 6-ї наук. конф., 4-6 грудня 2019 р., Київ, Україна / редкол.: А. Г. Наумовець (голова) [та ін.] ; НАН України. – Київ : [б. в.], 2019. – P. 111.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/61784enBi1−xSbxsolid solutionsthermoelectric (TE) materialrefrigerating devicesthin filmspolycrystalsimpurity subsystem of crystalThesishttps://orcid.org/0000-0001-7584-656Xhttps://orcid.org/0000-0002-9638-7080https://orcid.org/0000-0003-2578-1109