Михайлов, Игорь ФедоровичБатурин, Алексей АнатольевичМихайлов, Антон Игоревич2015-06-122015-06-122015Михайлов И. Ф. Рентгеновские методы анализа состава материалов : монография / И. Ф. Михайлов, А. А. Батурин, А. И. Михайлов ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : Підручник НТУ "ХПІ", 2015. – 204 с.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15319В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities.ruрентгенофлуоресцентный анализрентгеноструктурный анализкомптоновское рассеяниерентгеновские спектрометрыкристаллы-анализаторымногослойные рентгеновские зеркаласхема Брэгга-СоллерамонографияmonographX-ray fluorescent analysisX-ray structure analysisCompton scatteringX-ray spectrometercrystal-analyzersX-Ray multi-layer mirrorsBragg-Soller schemeMonograph