Galuza, A. A.Kolenov, I.Savchenko, Alla Aleksandrovna2022-04-252022-04-252021Galuza A. A. Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling / A. Galuza, I. Kolenov, A. Savchenko // Multiscale Phenomena in Condensed Matter : Abstracts of the Online conference for young researchers (YOUNG MULTIS 2021), Kraków, 5–7 July 2021. – P. 120.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56595Ця стаття присвячена проблемі аналізу еліпсометричних даних поверхні з локалізованими дефектами (різні фази, пухирі, зерна тощо).This paper is devoted to the problem of the analysis of ellipsometric data of the surface with localized defects (di erent phases, blistering, grains etc.).enellipsometric dataellipsometric experimentradiation stabilityеліпсометричні дані поверхніеліпсометричний експеримент.радіаційна стійкість зміцненого сплаву CuCrZrThesis